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供应IC测试座,老化座.IC test and Burn-In Socket

信息: 供应IC测试座,老化座.IC test and Burn-In Socket
型号: IC51-1004-809
品牌: st
单价: 面议
更新时间: 2016-12-30 13:30
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[产品介绍]:

http://www.lingmei.com.cn/

 

IC测试座/老化座(IC Test & Burn-In sockets),封装包括:BGA/CSP(Pitch=1.5mm.1.27mm.1.00mm.0.8mm.0.75mm.0.65mm.0.5mm)、BGA贴片(原型)测试座、QFN(Pitch=0.65mm,0.5mm.0.4mm)、QFP(Pitch=0.4mm.0.5mm.0.65mm.0.8mm.1.00mm)、QFP贴片(原型)测试座、PGA、SOP、SSOP、TSOP、TSSOP、SOT(晶体管测试座)、PLCC、DIP、SOJ等。品牌包括:YAMAICHI、ENPLAS、3M TEXTOOL、WELLSCTI、TI、Advanced Interconnections等. 一般常用的IC测试座,本公司都备有现货,菱美电子同时提供最全的BGA/QFN/QFP/SOP/SOT/DIP测试插座产品,部分BGA插座货期更短至2-~3周,同时可根据客户的BGA器件出脚定制合适的BGA插座. 如果您有兴趣,请浏览公司网页: Http://www.lingmei.com.cn MSN在线沟通: lingmei_ic@hotmail.com.

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